氧化亚硅电芯容量衰减机制分析
王怡, 李束炜, 陈学兵, 王愿习, 王雪锋, 李泓
Capacity fading mechanism analysis of silicon oxide cell
Yi WANG, Shuwei LI, Xuebing CHEN, Yuanxi WANG, Xuefeng WANG, Hong LI
储能科学与技术 . 2025, (): 1 -13 .  DOI: 10.19799/j.cnki.2095-4239.2025.0814