Electrode materials are the key structural components of lithium-ion batteries, and their structural stability directly determines the electrochemical performance of lithium-ion batteries. Nevertheless, it is challenging to characterize their microstructure and structure since the electrode materials are sensitive to air and moisture, not resistant to electron beam irradiation, and the electrode itself and its chemical environment are constantly changing during the charging and discharging process. Focused ion beam-scanning electron microscope is an important means of preparing transmission samples and has been widely used in semiconductor, biology, and other fields. Based on the discussion of related literature in recent years, this paper summarizes the solutions of focused ion beams in the field of lithium-ion batteries, focusing on the latest progress of focused ion beams in three-dimensional (3D) reconstruction, freezing processing, the construction of single-particle batteries. 3D reconstruction technology can obtain 3D characteristic information on pore networks, multi-phase structure, and volume change in electrode materials; perform a quantitative evaluation; and establish a microstructure model to predict battery performance. Based on cryogenic processing technology, the liquid electrolyte, Li metal, and other beam-sensitive materials are frozen to maintain their original morphology and chemical properties, which can effectively characterize the intrinsic information of the Li metal anode and solid-liquid interface. The construction of a single-particle microbattery can realize the in situ observation of microstructure evolution during a single-particle cycle; avoid the influence of binders, conductive additives, etc. on the intrinsic properties of the material; and determine the intrinsic characteristics of the electrode material. Thus, this paper introduces the processing process of focused ion beam, analyzes the shortcomings in the processing process, and presents the associated challenges. The findings of this article provides insights for researchers based on the characteristics of lithium-ion battery materials and focused ion beam experimental methods.
Keywords:lithium-ion battery
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focused ion beam-scanning electron microscope
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3D reconstruction
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cryogenic processing
聚焦离子束-扫描电镜双束系统(focused ion beam-scanning electron microscopy,FIB-SEM)作为重要的微纳米尺度精细加工设备,可以实现定点刻蚀加工、沉积、原位分析等功能,在半导体、生物、材料等诸多领域都有着广泛的应用[4]。近年来,FIB-SEM在三维重构、冷冻加工技术等方面飞速发展,与其他附件、设备的灵活搭配,为这些问题提供了解决的办法。本文概述了FIB-SEM在锂离子电池研究领域的最新进展,并探讨了这些方法目前存在的不足,为进一步研究锂离子电池材料特性开辟新的思路提供参考。
1 聚焦离子束双束系统的基本构成及工作原理
FIB-SEM的总体组件与扫描电镜类似,由电子柱、离子柱、束描画系统、信号采集系统、样品台和其他附件构成[5]。其中,离子柱包括离子源、用于放大缩小和聚焦的静电透镜、扫描偏转线圈和一个不同孔径大小组成的光阑。核心组件液态金属离子源[6](liquid metal ion source,LMIS)由一个半径为2~5 μm的钨尖组成,钨尖被尖端上方的加热融化的液态金属储层浸湿,如图1(a)所示。在尖端和靠近尖端的电极之间施加电场,在表面张力和相反电场力的作用下,在尖端上方形成一个尖锥,即泰勒锥,其尖端半径约2 nm。当电压达到一定阈值时,锥端形成射流,金属离子电离并通过场蒸发过程逸出形成离子流[6-7]。离子流通常可以加速到0.5~30 kV的能量,由静电透镜聚焦到样品表面。离子与样品相互作用时产生级联碰撞导致溅射,探测器收集产生的二次电子和二次离子用于成像。主高能离子的质量远大于高能电子,因而提供了在特定位置溅射材料的能力。
通过FIB-SEM三维成像技术获取的数据集还可以被用作模拟和模型的输入参数,填补实验和模拟领域之间的空白[20-23]。早在2013年,Wiedemann等[20]通过FIB-SEM实验数据建立了一种表征锂离子电池阴极微观结构的三维模型,并研究其微观结构的几何效应。该模型描述了电极结构在固相中的输运和电化学过程,模型预测的放电特性与实验结果一致。三维结果揭示了固相电极材料(如LiCoO2)中锂浓度和静电势随放电速率的显著局部变化。此外,结果表明,在实际电极结构中有显著的三维空间变化,不能用基于理想微结构(如球形电极颗粒)的模型来预测,采用FIB-SEM实验获取实际测量得到的电极微结构非常有必要。Allen等[21]结合FIB-EBSD和X射线纳米断层扫描(nano-CT)技术分别获取Li x Ni0.5Mn0.3Co0.2O2(NMC532)二次阴极粒子的晶粒级特性(如晶粒尺寸和球形度)和粒子级特性。根据这些数据集,采用机器学习算法建立了一个二次阴极颗粒连续级损伤模型。模型预测了快速充电协议导致的阴极化学机械损伤,二次颗粒断裂主要是由于高速循环过程中非理想的晶粒间相互作用,晶粒取向和锂梯度变化引起的连续级损伤,且二次颗粒的尺寸越小所受损伤越小。此外,大多数化学-机械损伤都是在最初的几个循环中累积的,容量随循环次数和速率单调增加。与实验结果相比,该模型能很好地捕捉初始容量衰减机制,但要捕捉长期容量衰减效应需要额外的物理条件(疲劳机制)。
Fig. 7
Scanning electron microscope images showing the progression of particle fracture and fragmentation as a function of cycle using the snapshot approach[44]
由于锂原子的弱散射和发射特性,使得X射线技术无法直接探测到,这是了解锂离子输运的一个长期挑战。飞行时间二次离子质谱(time-of-flight secondary ion mass spectrometry,TOF-SIMS)根据二次离子对探测器飞行时间的不同,可以确定离子质量,具有较高的诊断分辨率。同时,它在最表层具有极高的空间分辨率,约2 nm,可以检测到如锂一类轻但重要的元素。将FIB-SEM与TOF-SIMS相结合,可以在纳米尺度上建立结构特征和元素分布之间的空间分辨相关性[28, 50]。Sui等[50]比较了EDX和TOF-SIMS在混合氧化物锂离子电池阴极中的相关FIB-SEM图谱,量化了带电和放电状态下活性材料中锂含量的比例,确定了晶界和颗粒-基质界面上的锂离子捕获位点。通过多模态相关分析,揭示了锂、锰、钴在充放电过程中迁移和浓度变化的细节。特别是晶界和颗粒界面附近的局部锂浓度由于诱导应力集中,最终导致碎片化、离子电导率降低和容量衰退,在结构退化中发挥重要作用。
原子探针色谱成像(atom probe tomography,APT)采用局部电极原子探针断层分析技术,是一种高性能原子级空间分辨率的测量和分析设备,其样品呈针尖状,曲率半径小于100 nm,由于其样品极高的精度要求,目前只能通过离子束加工制备。APT对锂具有化学敏感性,这一特点使其成为研究纳米厚度钝化层的最强大的技术。2020年,Scipioni等[51]利用FIB制得原子探针样品,并首次利用APT技术研究了锂离子电池阴极CEI层。分析结果首次揭示了LiMn2O4阴极上的CEI层具有纳米级的混合层-镶嵌结构,内部是均匀的Mn x O y 和MnF x 层,外部是无机(LiF,Li2O)和有机分子(聚碳酸酯)的镶嵌网络。此外,将多尺度三维色谱成像与阻抗谱相关联建立定量电化学模型,从而了解基本电极过程如何决定电池特性。该研究为未来不同电化学性质的CEI层APT研究奠定了基础,对界面结构的认识可能会影响阴极保护涂层的发展,从而全面提高锂离子电池的性能和安全性。
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... 聚焦离子束-扫描电镜双束系统(focused ion beam-scanning electron microscopy,FIB-SEM)作为重要的微纳米尺度精细加工设备,可以实现定点刻蚀加工、沉积、原位分析等功能,在半导体、生物、材料等诸多领域都有着广泛的应用[4].近年来,FIB-SEM在三维重构、冷冻加工技术等方面飞速发展,与其他附件、设备的灵活搭配,为这些问题提供了解决的办法.本文概述了FIB-SEM在锂离子电池研究领域的最新进展,并探讨了这些方法目前存在的不足,为进一步研究锂离子电池材料特性开辟新的思路提供参考. ...
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... FIB-SEM的总体组件与扫描电镜类似,由电子柱、离子柱、束描画系统、信号采集系统、样品台和其他附件构成[5].其中,离子柱包括离子源、用于放大缩小和聚焦的静电透镜、扫描偏转线圈和一个不同孔径大小组成的光阑.核心组件液态金属离子源[6](liquid metal ion source,LMIS)由一个半径为2~5 μm的钨尖组成,钨尖被尖端上方的加热融化的液态金属储层浸湿,如图1(a)所示.在尖端和靠近尖端的电极之间施加电场,在表面张力和相反电场力的作用下,在尖端上方形成一个尖锥,即泰勒锥,其尖端半径约2 nm.当电压达到一定阈值时,锥端形成射流,金属离子电离并通过场蒸发过程逸出形成离子流[6-7].离子流通常可以加速到0.5~30 kV的能量,由静电透镜聚焦到样品表面.离子与样品相互作用时产生级联碰撞导致溅射,探测器收集产生的二次电子和二次离子用于成像.主高能离子的质量远大于高能电子,因而提供了在特定位置溅射材料的能力. ...
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... FIB-SEM的总体组件与扫描电镜类似,由电子柱、离子柱、束描画系统、信号采集系统、样品台和其他附件构成[5].其中,离子柱包括离子源、用于放大缩小和聚焦的静电透镜、扫描偏转线圈和一个不同孔径大小组成的光阑.核心组件液态金属离子源[6](liquid metal ion source,LMIS)由一个半径为2~5 μm的钨尖组成,钨尖被尖端上方的加热融化的液态金属储层浸湿,如图1(a)所示.在尖端和靠近尖端的电极之间施加电场,在表面张力和相反电场力的作用下,在尖端上方形成一个尖锥,即泰勒锥,其尖端半径约2 nm.当电压达到一定阈值时,锥端形成射流,金属离子电离并通过场蒸发过程逸出形成离子流[6-7].离子流通常可以加速到0.5~30 kV的能量,由静电透镜聚焦到样品表面.离子与样品相互作用时产生级联碰撞导致溅射,探测器收集产生的二次电子和二次离子用于成像.主高能离子的质量远大于高能电子,因而提供了在特定位置溅射材料的能力. ...
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... FIB-SEM的总体组件与扫描电镜类似,由电子柱、离子柱、束描画系统、信号采集系统、样品台和其他附件构成[5].其中,离子柱包括离子源、用于放大缩小和聚焦的静电透镜、扫描偏转线圈和一个不同孔径大小组成的光阑.核心组件液态金属离子源[6](liquid metal ion source,LMIS)由一个半径为2~5 μm的钨尖组成,钨尖被尖端上方的加热融化的液态金属储层浸湿,如图1(a)所示.在尖端和靠近尖端的电极之间施加电场,在表面张力和相反电场力的作用下,在尖端上方形成一个尖锥,即泰勒锥,其尖端半径约2 nm.当电压达到一定阈值时,锥端形成射流,金属离子电离并通过场蒸发过程逸出形成离子流[6-7].离子流通常可以加速到0.5~30 kV的能量,由静电透镜聚焦到样品表面.离子与样品相互作用时产生级联碰撞导致溅射,探测器收集产生的二次电子和二次离子用于成像.主高能离子的质量远大于高能电子,因而提供了在特定位置溅射材料的能力. ...
... FIB-SEM的总体组件与扫描电镜类似,由电子柱、离子柱、束描画系统、信号采集系统、样品台和其他附件构成[5].其中,离子柱包括离子源、用于放大缩小和聚焦的静电透镜、扫描偏转线圈和一个不同孔径大小组成的光阑.核心组件液态金属离子源[6](liquid metal ion source,LMIS)由一个半径为2~5 μm的钨尖组成,钨尖被尖端上方的加热融化的液态金属储层浸湿,如图1(a)所示.在尖端和靠近尖端的电极之间施加电场,在表面张力和相反电场力的作用下,在尖端上方形成一个尖锥,即泰勒锥,其尖端半径约2 nm.当电压达到一定阈值时,锥端形成射流,金属离子电离并通过场蒸发过程逸出形成离子流[6-7].离子流通常可以加速到0.5~30 kV的能量,由静电透镜聚焦到样品表面.离子与样品相互作用时产生级联碰撞导致溅射,探测器收集产生的二次电子和二次离子用于成像.主高能离子的质量远大于高能电子,因而提供了在特定位置溅射材料的能力. ...
... 通过FIB-SEM三维成像技术获取的数据集还可以被用作模拟和模型的输入参数,填补实验和模拟领域之间的空白[20-23].早在2013年,Wiedemann等[20]通过FIB-SEM实验数据建立了一种表征锂离子电池阴极微观结构的三维模型,并研究其微观结构的几何效应.该模型描述了电极结构在固相中的输运和电化学过程,模型预测的放电特性与实验结果一致.三维结果揭示了固相电极材料(如LiCoO2)中锂浓度和静电势随放电速率的显著局部变化.此外,结果表明,在实际电极结构中有显著的三维空间变化,不能用基于理想微结构(如球形电极颗粒)的模型来预测,采用FIB-SEM实验获取实际测量得到的电极微结构非常有必要.Allen等[21]结合FIB-EBSD和X射线纳米断层扫描(nano-CT)技术分别获取Li x Ni0.5Mn0.3Co0.2O2(NMC532)二次阴极粒子的晶粒级特性(如晶粒尺寸和球形度)和粒子级特性.根据这些数据集,采用机器学习算法建立了一个二次阴极颗粒连续级损伤模型.模型预测了快速充电协议导致的阴极化学机械损伤,二次颗粒断裂主要是由于高速循环过程中非理想的晶粒间相互作用,晶粒取向和锂梯度变化引起的连续级损伤,且二次颗粒的尺寸越小所受损伤越小.此外,大多数化学-机械损伤都是在最初的几个循环中累积的,容量随循环次数和速率单调增加.与实验结果相比,该模型能很好地捕捉初始容量衰减机制,但要捕捉长期容量衰减效应需要额外的物理条件(疲劳机制). ...
... [20]通过FIB-SEM实验数据建立了一种表征锂离子电池阴极微观结构的三维模型,并研究其微观结构的几何效应.该模型描述了电极结构在固相中的输运和电化学过程,模型预测的放电特性与实验结果一致.三维结果揭示了固相电极材料(如LiCoO2)中锂浓度和静电势随放电速率的显著局部变化.此外,结果表明,在实际电极结构中有显著的三维空间变化,不能用基于理想微结构(如球形电极颗粒)的模型来预测,采用FIB-SEM实验获取实际测量得到的电极微结构非常有必要.Allen等[21]结合FIB-EBSD和X射线纳米断层扫描(nano-CT)技术分别获取Li x Ni0.5Mn0.3Co0.2O2(NMC532)二次阴极粒子的晶粒级特性(如晶粒尺寸和球形度)和粒子级特性.根据这些数据集,采用机器学习算法建立了一个二次阴极颗粒连续级损伤模型.模型预测了快速充电协议导致的阴极化学机械损伤,二次颗粒断裂主要是由于高速循环过程中非理想的晶粒间相互作用,晶粒取向和锂梯度变化引起的连续级损伤,且二次颗粒的尺寸越小所受损伤越小.此外,大多数化学-机械损伤都是在最初的几个循环中累积的,容量随循环次数和速率单调增加.与实验结果相比,该模型能很好地捕捉初始容量衰减机制,但要捕捉长期容量衰减效应需要额外的物理条件(疲劳机制). ...
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... 通过FIB-SEM三维成像技术获取的数据集还可以被用作模拟和模型的输入参数,填补实验和模拟领域之间的空白[20-23].早在2013年,Wiedemann等[20]通过FIB-SEM实验数据建立了一种表征锂离子电池阴极微观结构的三维模型,并研究其微观结构的几何效应.该模型描述了电极结构在固相中的输运和电化学过程,模型预测的放电特性与实验结果一致.三维结果揭示了固相电极材料(如LiCoO2)中锂浓度和静电势随放电速率的显著局部变化.此外,结果表明,在实际电极结构中有显著的三维空间变化,不能用基于理想微结构(如球形电极颗粒)的模型来预测,采用FIB-SEM实验获取实际测量得到的电极微结构非常有必要.Allen等[21]结合FIB-EBSD和X射线纳米断层扫描(nano-CT)技术分别获取Li x Ni0.5Mn0.3Co0.2O2(NMC532)二次阴极粒子的晶粒级特性(如晶粒尺寸和球形度)和粒子级特性.根据这些数据集,采用机器学习算法建立了一个二次阴极颗粒连续级损伤模型.模型预测了快速充电协议导致的阴极化学机械损伤,二次颗粒断裂主要是由于高速循环过程中非理想的晶粒间相互作用,晶粒取向和锂梯度变化引起的连续级损伤,且二次颗粒的尺寸越小所受损伤越小.此外,大多数化学-机械损伤都是在最初的几个循环中累积的,容量随循环次数和速率单调增加.与实验结果相比,该模型能很好地捕捉初始容量衰减机制,但要捕捉长期容量衰减效应需要额外的物理条件(疲劳机制). ...
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... 通过FIB-SEM三维成像技术获取的数据集还可以被用作模拟和模型的输入参数,填补实验和模拟领域之间的空白[20-23].早在2013年,Wiedemann等[20]通过FIB-SEM实验数据建立了一种表征锂离子电池阴极微观结构的三维模型,并研究其微观结构的几何效应.该模型描述了电极结构在固相中的输运和电化学过程,模型预测的放电特性与实验结果一致.三维结果揭示了固相电极材料(如LiCoO2)中锂浓度和静电势随放电速率的显著局部变化.此外,结果表明,在实际电极结构中有显著的三维空间变化,不能用基于理想微结构(如球形电极颗粒)的模型来预测,采用FIB-SEM实验获取实际测量得到的电极微结构非常有必要.Allen等[21]结合FIB-EBSD和X射线纳米断层扫描(nano-CT)技术分别获取Li x Ni0.5Mn0.3Co0.2O2(NMC532)二次阴极粒子的晶粒级特性(如晶粒尺寸和球形度)和粒子级特性.根据这些数据集,采用机器学习算法建立了一个二次阴极颗粒连续级损伤模型.模型预测了快速充电协议导致的阴极化学机械损伤,二次颗粒断裂主要是由于高速循环过程中非理想的晶粒间相互作用,晶粒取向和锂梯度变化引起的连续级损伤,且二次颗粒的尺寸越小所受损伤越小.此外,大多数化学-机械损伤都是在最初的几个循环中累积的,容量随循环次数和速率单调增加.与实验结果相比,该模型能很好地捕捉初始容量衰减机制,但要捕捉长期容量衰减效应需要额外的物理条件(疲劳机制). ...
... 由于锂原子的弱散射和发射特性,使得X射线技术无法直接探测到,这是了解锂离子输运的一个长期挑战.飞行时间二次离子质谱(time-of-flight secondary ion mass spectrometry,TOF-SIMS)根据二次离子对探测器飞行时间的不同,可以确定离子质量,具有较高的诊断分辨率.同时,它在最表层具有极高的空间分辨率,约2 nm,可以检测到如锂一类轻但重要的元素.将FIB-SEM与TOF-SIMS相结合,可以在纳米尺度上建立结构特征和元素分布之间的空间分辨相关性[28, 50].Sui等[50]比较了EDX和TOF-SIMS在混合氧化物锂离子电池阴极中的相关FIB-SEM图谱,量化了带电和放电状态下活性材料中锂含量的比例,确定了晶界和颗粒-基质界面上的锂离子捕获位点.通过多模态相关分析,揭示了锂、锰、钴在充放电过程中迁移和浓度变化的细节.特别是晶界和颗粒界面附近的局部锂浓度由于诱导应力集中,最终导致碎片化、离子电导率降低和容量衰退,在结构退化中发挥重要作用. ...
... [44].用纳米机械手将附着的单阴极氧化物粒子浸入或部分浸入覆盖阳极材料(Li4Ti5O12)的液滴中.整个实验在FIB-SEM中进行Secondary electron image of the icroscale battery set-up as observed in the microscope[44]Fig. 6
Scanning electron microscope images showing the progression of particle fracture and fragmentation as a function of cycle using the snapshot approach[44]Fig. 7
Scanning electron microscope images showing the progression of particle fracture and fragmentation as a function of cycle using the snapshot approach[44]Fig. 7
... [44].这些图像显示了同一粒子在(a)初始和(b)1、(c)2、(d)3个完整的充放电循环之后的截面Scanning electron microscope images showing the progression of particle fracture and fragmentation as a function of cycle using the snapshot approach[44]Fig. 7
... 由于锂原子的弱散射和发射特性,使得X射线技术无法直接探测到,这是了解锂离子输运的一个长期挑战.飞行时间二次离子质谱(time-of-flight secondary ion mass spectrometry,TOF-SIMS)根据二次离子对探测器飞行时间的不同,可以确定离子质量,具有较高的诊断分辨率.同时,它在最表层具有极高的空间分辨率,约2 nm,可以检测到如锂一类轻但重要的元素.将FIB-SEM与TOF-SIMS相结合,可以在纳米尺度上建立结构特征和元素分布之间的空间分辨相关性[28, 50].Sui等[50]比较了EDX和TOF-SIMS在混合氧化物锂离子电池阴极中的相关FIB-SEM图谱,量化了带电和放电状态下活性材料中锂含量的比例,确定了晶界和颗粒-基质界面上的锂离子捕获位点.通过多模态相关分析,揭示了锂、锰、钴在充放电过程中迁移和浓度变化的细节.特别是晶界和颗粒界面附近的局部锂浓度由于诱导应力集中,最终导致碎片化、离子电导率降低和容量衰退,在结构退化中发挥重要作用. ...
... 原子探针色谱成像(atom probe tomography,APT)采用局部电极原子探针断层分析技术,是一种高性能原子级空间分辨率的测量和分析设备,其样品呈针尖状,曲率半径小于100 nm,由于其样品极高的精度要求,目前只能通过离子束加工制备.APT对锂具有化学敏感性,这一特点使其成为研究纳米厚度钝化层的最强大的技术.2020年,Scipioni等[51]利用FIB制得原子探针样品,并首次利用APT技术研究了锂离子电池阴极CEI层.分析结果首次揭示了LiMn2O4阴极上的CEI层具有纳米级的混合层-镶嵌结构,内部是均匀的Mn x O y 和MnF x 层,外部是无机(LiF,Li2O)和有机分子(聚碳酸酯)的镶嵌网络.此外,将多尺度三维色谱成像与阻抗谱相关联建立定量电化学模型,从而了解基本电极过程如何决定电池特性.该研究为未来不同电化学性质的CEI层APT研究奠定了基础,对界面结构的认识可能会影响阴极保护涂层的发展,从而全面提高锂离子电池的性能和安全性. ...